應用范圍:通過XRD光譜儀對電極材料在充放電過程中的物相結構變化進行監測。分體式結構,可以裝配不同的樣品托,適用于各種XRD光譜儀。
產品型號:X-3-ION-F
上架時間:2024-11-08
版本號:V1.1
功能特點 |
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技術參數 | ||
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主體尺寸 | 直 徑 | 51.5 mm |
高 度 | 15mm | |
視 窗 | ?12mm | |
適配儀器型號 | 本測試裝置適用于布魯克FLIP-STICK 9位樣品架,也可提供適于Rigaku和Panalytical XRD光譜儀的樣品托,其它具有特殊要求的樣品架請與我司聯系 | |
備注 | 提供?2mm 香蕉插頭,提供0.2 mm 厚 Be窗,提供聚合物PI窗口 |
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